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PCB007与GEN3为您带来电子产品可靠性预测网络研讨会
该网络研讨会的背景资料 本网络研讨会将向观众详细介绍电化学迁移(ECM)的历史和表面绝缘电阻测试(SIR)的不断发展和使用。该测试是由 GEN3 与英国国家物理实验室(British Nationa ...查看更多
PCB007与GEN3为您带来电子产品可靠性预测网络研讨会
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VJ Electronix发布最新自动化X射线检测设备
Brennan Caissie分享了一种新型检测工具,其自动化系统可减轻制造车间操作员的压力,并可对整个设计过程提供反馈。 Nolan Johnson:Brennan,作为应用工程师 ...查看更多
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HKPCA 8月研讨会:IC载板发展及技术趋势
报名开始 时间 2022年8月26日(周五)10:00-11:30 形式 线上研讨会 语言 普通话 课题详情 2022年 ...查看更多